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存储器晶圆探测自动测试装备主要应用于Nor/Nand/DDR Flash的低速CP测试，监控wafer良率，降低后道封装与测试本钱 。该装备最高测试速率可达400MHz/800Mbps，拥有9984 IO通道，最大可同时对1536个NOR Flash（6*I/O）举行测试 。测试精度高，系统具有无邪的时序调解和高精度的DC丈量单位，能够知足DUT的AC/DC参数丈量和功效测试 。
本装备既可用于大批量生产测试，也可用于芯片设计验证，测试时需搭配探针台� ？� 。
该测试装备的配套软件为精鸿自主研发的CP TEST SYSTEM，支持工程师和生产两种事情模式，既可用于研发阶段芯片功效验证，又可用于批量生产测试 。
本装备主要应用于半导体行业，面向Memory CP测试领域，知足NOR/NAND/DRAM等存储芯片客户和第三方封测厂的测试需求 。
· 高精度丈量
设置有无邪的时序调解和高精度的DC丈量单位，搭配诊断校准� ？�，可诊断装备状态、对IO通道的AC/DC举行校准，为客户提供更高的丈量精度和测试可靠性 。
· 友好交互界面
自主研发UI控制界面，可实现存储器芯片的动态功效测试，同时为客户提供操作简朴、界面友好的用户体验 。
· 高并行测试效率
设计有针对存储器CP测试系统PMU单位的Per Pin架构，可实现对整机设置的9984个IO通道的并行测试，资助用户加速测试时间，提升测试效率，降低综合测试本钱 。
· 可定制测试流程
设置可定制化系统控制� ？�，支持可定制的测试流程，即支持用户自界说存储芯片的功效和逻辑测试项、支持开放接口由用户开发外设控制的测试项，最终实现用户凭证测试需要和测试妄想，定制整体测试流程 。
在使用Memory CP ATE举行CP测试时，需搭配探针台、探针卡、WMB吊具Lifter等配套装备/器件使用，客户可凭证需要自行购置或委托我司设置 。
产品配套表
本产品已乐成应用于Nor Flash芯片的CP测试 。
本装备测试工具主要包括NOR Flash/NAND Flash/DDR等存储类器件，未来可向SOC器件测试领域扩展 。
· 原质料品质包管：要害物料选用一线品牌高端质料和半导体领域高端SMT工艺，且经由可靠性认证 。
· 7×24h响应：本土AE/FAE团队，7*24H电话及现场响应，危害实时排查，保内免费替换 。
· 定制化服务：凭证客户需求，可提供DUT测试应用的定制开发、全流程定制化ATE测试解决计划 。
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